| NCID | BA62889819 |
| タイトル | 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳||ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ |
| 出版者 | 東京 : アグネ承風社 , 2003.7 |
| 形態 | xix, 429p : 挿図 ; 21cm |
| 別書名 | Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
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| 注記 | 引用文献: 各章末
Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳 |
| 分類 | NDC8:428.4
NDC9:428.4 |
| 件名 | BSH:表面(工学上)
BSH:イオンビーム
BSH:質量分析
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| 著者情報 | Briggs, D.
Seah, M. P.
志水, 隆一 (シミズ, リュウイチ)
二瓶, 好正(1940-) (ニヘイ, ヨシマサ)
新SIMS研究会||シン シムス ケンキュウカイ <>
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| 和洋区分 | 和 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 原作言語 | 英語 |
| 出版国 | 日本 |
| ISBN | 4900508101
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| 番号 | OTHN : TRC:03035371 |