| NCID | BN11291090 |
| タイトル | 表面・界面の分析と評価 / 平木昭夫, 成沢忠共著||ヒョウメン ・ カイメン ノ ブンセキ ト ヒョウカ |
| 出版者 | 東京 : オーム社 , 1994.9 |
| 形態 | ix, 141p ; 22cm |
| 注記 | 参考文献: 各章末 |
| シリーズ名 | 応用物理学シリーズ ; 専門コース
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| 分類 | NDC8:428.8
NDC7:428.85 |
| 件名 | BSH:半導体
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| 著者情報 | 平木, 昭夫 (ヒラキ, アキオ)
成沢, 忠 (ナルサワ, タダシ)
応用物理学会 (オウヨウ ブツリ ガッカイ)
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| 和洋区分 | 和 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 出版国 | 日本 |
| ISBN | 4274129764
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| 番号 | OTHN : JLA:94033512 |