NCID | BN03575514 |
タイトル | 表面と薄膜分析技術の基礎 / L.C.フェルドマン, J.W.メイヤー著 ; 栗山一男,山本康博訳||ヒョウメン ト ハクマク ブンセキ ギジュツ ノ キソ |
出版者 | 東京 : 海文堂 , 1989.6 |
形態 | xii, 353p ; 22cm |
別書名 | Fundamentals of surface and thin film analysis
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注記 | 文献:各章末 |
分類 | NDC8:428.4 NDLC:MC141 |
件名 | BSH:表面(工学)
BSH:薄膜
BSH:光学分析
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著者情報 | Feldman, Leonard C. Mayer, James W., 1930- 栗山, 一男 (クリヤマ, カズオ) 山本, 康博 (ヤマモト, ヤスヒロ)
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和洋区分 | 和 |
標題言語 | 日本語 |
本文言語 | 日本語 |
原作言語 | 英語 |
出版国 | 日本 |
ISBN | 4303712000
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番号 | OTHN : JLA:89017148 |