検索条件入力 ＞ 書誌詳細 ＞ 関連資料一覧：（本学所蔵） ＞ 植物試料のための超薄切片法
書誌詳細
  

NCIDBN00760418
タイトル植物試料のための超薄切片法 / 遠山益著||ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ
出版者東京 : 学会出版センター , 1983.8
形態114p ; 21cm
注記参考書:p110
シリーズ名医学・生物学のための電子顕微鏡実験法 ; 5
分類NDC8:470.72
NDLC:RA64
件名NDLSH:電子顕微鏡
NDLSH:ミクロテクニック
著者情報遠山, 益(1930-) (トオヤマ, ススム)
山田, 英智(1922-) (ヤマダ, エイチ)
和洋区分和
標題言語日本語
本文言語日本語
出版国日本
ISBN4762262862
番号NBN : JP84001546
WebCatPlus を見る    CiNii Books を見る
所蔵一覧
巻号予約予約人数所在請求記号資料ID状態備考
1 0図書館(書庫)460.7:Sy830382014 利用可  
0理生体制御460.7:I:5212800100 研究室  
0理生体制御460.7:Sy210800340 研究室  

選択行を：  

▲ページトップへ