| NCID | BB17764226 |
| タイトル | Accounts, excuses, and apologies : image repair theory and research / William L. Benoit |
| 版次 | 2nd ed |
| 出版者 | Albany : State University of New York Press , c2015 |
| 形態 | xi, 154 p. : ill. ; 23 cm |
| 注記 | Includes bibliographical references (p. 133-147) and index |
| 分類 | DC23:401.41 |
| 件名 | LCSH:Discourseanalysis
LCSH:Verbalself-defense
LCSH:Rhetoricalcriticism
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| 著者情報 | Benoit, William L.
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | アメリカ合衆国 |
| ISBN | 9781438453989(: pbk)
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| 番号 | NBN : 016898440,GBB4B6649
LCCN : 2014002125 |