| NCID | BA03687119 |
| タイトル | Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / edited by M.J. Howes, D.V. Morgan |
| 出版者 | Chichester ; New York : J. Wiley , c1981 |
| 形態 | xii, 444 p. : ill. ; 24 cm |
| 注記 | Includes bibliographical references and index |
| シリーズ名 | The Wiley series in solid state devices and circuits
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| 分類 | LCC:TK7871.85
DC19:621.3815/2 |
| 件名 | LCSH:Semiconductors -- Reliability
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| 著者情報 | Howes, M. J.
Morgan, D. V.
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | イギリス |
| ISBN | 0471280283
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| 番号 | NBN : GB***
LCCN : 80042310 |