| NCID | BA0446462X |
| タイトル | Logic testing and design for testability / Hideo Fujiwara |
| 出版者 | Cambridge, Mass. : MIT Press , c1985 |
| 形態 | x, 284 p. : ill. ; 24 cm |
| 注記 | Bibliography: p. [272]-278
Includes index |
| シリーズ名 | MIT Press series in computer systems
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| 分類 | LCC:TK7868.L6
DC19:621.3815/37 |
| 件名 | LCSH:Logiccircuits -- Testing
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| 著者情報 | 藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | アメリカ合衆国 |
| ISBN | 0262060965
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| 番号 | LCCN : 85000084 |