| NCID | BA1952825X |
| タイトル | Semiconductor measurements and instrumentation / W. R. Runyan |
| 版次 | International student edition |
| 出版者 | New York : McGraw-Hill , [1975] |
| 形態 | vii, 280 p. : ill. ; 26 cm |
| 注記 | Includes bibliographical references and index |
| シリーズ名 | Texas Instruments electronics series
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| 分類 | LCC:QC611.24
DC:537.6/22 |
| 件名 | LCSH:Semiconductors
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| 著者情報 | Runyan, W. R.
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | アメリカ合衆国 |
| ISBN | 0070542732
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| 番号 | LCCN : 75019035 |