| NCID | BA19674681 |
| タイトル | Characterization of semiconductor materials / Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee |
| 出版者 | New York : McGraw-Hill , c1970 |
| 形態 | xvi, 351 p. : ill. ; 26 cm |
| 注記 | Includes bibliographical references |
| シリーズ名 | Texas Instruments electronics series
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| 著者情報 | Kane, Philip F., 1920-
Larrabee, Graydon B., 1932-
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | アメリカ合衆国 |
| ISBN | 0070332738
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| 番号 | LCCN : 79081607 |