| NCID | BA20564159 |
| タイトル | Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi |
| 出版者 | New York : Marcel Dekker Inc. , c1993 |
| 形態 | xiii, 551 p. : ill. ; 24 cm |
| シリーズ名 | Optical engineering ; v. 38
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| 分類 | LCC:TA417.2
DC20:620.1/127 |
| 件名 | LCSH:Non-destructivetesting
LCSH:Specklemetrology
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| 著者情報 | Sirohi, Rajpal S.
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| 和洋区分 | 洋 |
| 標題言語 | 英語 |
| 本文言語 | 英語 |
| 出版国 | アメリカ合衆国 |
| ISBN | 0824789326
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| 番号 | LCCN : 93000734 |