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検索結果一覧:(本学所蔵)
> Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
書誌詳細
NCID
BB18388684
タイトル
Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy / Bert Voigtländer
出版者
Berlin : Springer , c2015
形態
xv, 382 p. : ill. (some col.) ; 25 cm
注記
Includes bibliogrpahical references (p. 375-376) and index
シリーズ名
Nanoscience and technology
分類
DC23:670
SG:670
件名
FREE:(Produktform)Hardback
FREE:(Zielgruppe)Fachpublikum/Wissenschaft
FREE:(Zielgruppe)Research
FREE:(BICSubjectHeading)TDPB
FREE:Scanningprobemicroscopy
FREE:Scanningforcemicroscopy
FREE:Non-contactAFM
FREE:Cantileverdetectionmethods
FREE:Scanningtunnelingspectroscopy
FREE:(VLB-WN)1689:Hardcover,Softcover/Technik/Sonstiges
著者情報
Voigtländer, Bert
和洋区分
洋
標題言語
英語
本文言語
英語
出版国
ドイツ = ドイツ連邦共和国
ISBN
9783662452394
番号
NBN : 1058499912
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