検索条件入力 ＞ 検索結果一覧：（本学所蔵） ＞ Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy
書誌詳細
  

NCIDBB18388684
タイトルScanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy / Bert Voigtländer
出版者Berlin : Springer , c2015
形態xv, 382 p. : ill. (some col.) ; 25 cm
注記Includes bibliogrpahical references (p. 375-376) and index
シリーズ名Nanoscience and technology
分類DC23:670
SG:670
件名FREE:(Produktform)Hardback
FREE:(Zielgruppe)Fachpublikum/Wissenschaft
FREE:(Zielgruppe)Research
FREE:(BICSubjectHeading)TDPB
FREE:Scanningprobemicroscopy
FREE:Scanningforcemicroscopy
FREE:Non-contactAFM
FREE:Cantileverdetectionmethods
FREE:Scanningtunnelingspectroscopy
FREE:(VLB-WN)1689:Hardcover,Softcover/Technik/Sonstiges
著者情報Voigtländer, Bert
和洋区分洋
標題言語英語
本文言語英語
出版国ドイツ = ドイツ連邦共和国
ISBN9783662452394
番号NBN : 1058499912
WebCatPlus を見る    CiNii Books を見る
所蔵一覧
巻号予約予約人数所在請求記号資料ID状態備考
1 0図書館(閲覧室)549.9:V215001951 利用可  

選択行を：  

▲ページトップへ