| NCID | BN00059257 |
| タイトル | 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]||ロンリ ト テスト |
| 出版者 | 東京 : 岩波書店 , 1985.5 |
| 形態 | x, 313p ; 22cm |
| 注記 | 参考書: p303-305 |
| シリーズ名 | 岩波講座マイクロエレクトロニクス ; 4[VLSIの設計 ; 2]
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| 分類 | NDC8:549
NDC8:549.08
NDC7:549.92
NDLC:ND351
NDLC:ND386 |
| 件名 | NDLSH:集積回路
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| 著者情報 | 樹下, 行三(1936-) (キノシタ, コウゾウ)
浅田, 邦博(1952-) (アサダ, クニヒロ)
唐津, 修(1947-) (カラツ, オサム)
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| 和洋区分 | 和 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 出版国 | 日本 |
| ISBN | 4000101846
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| 番号 | NBN : JP85047180 |