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検索結果一覧:(本学所蔵)
> 植物試料のための超薄切片法
書誌詳細
NCID
BN00760418
タイトル
植物試料のための超薄切片法 / 遠山益著||ショクブツ シリョウ ノ タメノ チョウハク セッペンホウ
出版者
東京 : 学会出版センター , 1983.8
形態
114p ; 21cm
注記
参考書:p110
シリーズ名
医学・生物学のための電子顕微鏡実験法
; 5
分類
NDC8:470.72
NDLC:RA64
件名
NDLSH:電子顕微鏡
NDLSH:ミクロテクニック
著者情報
遠山, 益(1930-)
(トオヤマ, ススム)
山田, 英智(1922-)
(ヤマダ, エイチ)
和洋区分
和
標題言語
日本語
本文言語
日本語
出版国
日本
ISBN
4762262862
番号
NBN : JP84001546
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資料ID
状態
備考
1
0
図書館(書庫)
460.7:Sy
830382014
利用可
0
理生体制御
460.7:I:5
212800100
研究室
0
理生体制御
460.7:Sy
210800340
研究室
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