| NCID | BN01115284 |
| タイトル | 電子 / 日本規格協会編||デンシ |
| 出版者 | 東京 : 日本規格協会 , 1971.5- |
| 形態 | 冊 ; 21cm |
| 注記 | 2001年度より試験方法・オプトエレクトロニクス編が分冊化
2001年度よりシリーズ巻号表示: 21, 22, 23巻 |
| シリーズ名 | JISハンドブック ; 8-9, 21-23
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| 分類 | NDC8:509.13
NDC8:549.072
NDLC:M361
NDLC:ND351 |
| 件名 | NDLSH:電子工学 -- 規格
NDLSH:工業規格
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| 著者情報 | 日本規格協会 (ニホン キカク キョウカイ)
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| 和洋区分 | 和 |
| 標題言語 | 日本語 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 出版国 | 日本 |
| ISBN | 4542120856(1985)
4542120864(1986)
4542120872(1987)
4542120899(1989)
4542120805(1990)
4542126080(1991 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542126099(1991 部品編)
4542126471(1992 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
454212648X(1992 部品編)
4542126889(1993 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542126897(1993 部品編)
454212732X(1994 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542127338(1994 部品編)
4542127745(1995 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542127753(1995 部品編)
4542128156(1996 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542128164(1996 部品編)
454212858X(1997 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542128598(1997 部品編)
4542129012(1998 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542129020(1998 部品編)
4542129462(1999 試験方法・オプトエレクトロニクス編)
4542129470(1999 部品編)
4542170217(2001 1.試験編)
4542170225(2001 2.オプトエレクトロニクス編)
4542170233(2001 3.部品編)
4542170896(2002 1.試験)
454217090X(2002 2.オプトエレクトロニクス)
4542170918(2002 3.部品)
4542171612(2003 1.試験)
4542171620(2003 2.オプトエレクトロニクス)
4542171639(2003 3.部品)
4542172376(2004 1:試験)
4542172384(2004 2:オプトエレクトロニクス)
4542172392(2004 3:部品)
4542173232(2005 1: 試験)
4542173240(2005 2: オプトエレクトロニクス)
4542173259(2005 3: 部品)
4542174158(2006 1: 試験)
4542174166(2006 2: オプトエレクトロニクス)
4542174174(2006 3: 部品)
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| 番号 | NBN : JP86058313 |